本网讯（学生记者 瞿紫玲 游晶 摄影 梁雁玲）5月11日下午，应我校邀请，加拿大萨斯喀彻温大学电子与计算机工程系副教授陈立博士在我校长安校区作题为《先进CMOS技术中的软错误》的专题学术讲座，前沿的讲座内容吸引了众多师生，现场座无虚席。
讲座内容涉及到深亚微米工艺的集成电路制造的可靠性，并介绍了先进的CMOS技术中的软错误。陈立博士从软错误的根本原因出发，举例介绍了28nm集成电路的测试芯片、现场逻辑修复和三维集成电路的测试芯片，还介绍了使用脉冲激光技术研究集成电路中的软错误，并讨论了研究领域的合作。同时，陈立博士为大家介绍了加拿大萨斯喀彻温大学，力邀同学们去该校学习，殷切希望有更多的同学能在电子与计算机工程专业上继续深造，陈立博士的渊博学识和精彩讲解赢得了大家诚挚的掌声。
陈立博士，1991年毕业于天津大学电子工程系仪器仪表专业，获得学士学位；2000年毕业于加拿大阿尔伯塔大学电气和计算机工程系功耗低微电子专业，获得硕士学位；2004年毕业于加拿大阿尔伯塔大学电气和计算机工程系辐射容错微电子专业，获得博士学位；2006年7月至2011年6月，就职于加拿大萨斯喀彻温大学电子与计算机工程系，任助理教授；2011年7月至今，就职于加拿大萨斯喀彻温大学电子与计算机工程系，任职副教授。目前是IEEE计算机学会、IEEE核学会、IEEE固态电路协会及APEGS协会会员。曾在IEEE核科学会刊，仪器仪表学报，电气工程国际评论等学术期刊和会议论文集上发表过50多篇论文。
